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1-2. フィルムの構造解析(小角X線散乱法)
高分子微小領域におけるナノレベル構造解析として小角X線散乱(SAXS)装置を用いたアプリケーション事例を紹介します。さらに、X線CTとSAXS測定を融合させた新技術についても説明します。

【日時】6/22(水)13:30-14:10

Jun 22, 2022 01:30 PM in Osaka, Sapporo, Tokyo

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